您现在所在位置:首页>>产品中心>>MICRO芯片质量检测设备

LED外延质量检测设备

LED wafer质量检测设备

LED背检设备

LED COT质量检测设备

LED BIN质量检测设备

MICRO芯片质量检测设备

光芯片检测设备

先进封装BUMP质量检测设备

柔性电路板AOI检测设备

高倍AOI

发布日期:2025-07-11 09:44:14浏览次数:128
  • WPS图片(1).png


功能概述

▷大靶面高速相机,10倍高清晰定制款镜头

▷像素分辨率0.32 μm*0.32μm

▷超快检测速度,可达60pcs/H

▷超强图像处理与算力,精准定位功能

▷明场暗场、黑白、彩色检查

▷漏检指标≤20ppm

▷适用SIC GAN功率芯片与Micro芯片检测


技术规格书


联系人


常先生 182 1881 3282


182 1881 3282