led/minled/micro 切割AOI

发布日期：2025-07-11 10:53:10浏览次数：151

微信图片_20250710154509.png

功能概述

▷适用于蓝宝石、GaN、lnP、GaAs衬底的芯片检缺陷检测、识别与分类

▷采用CCD相机检查，能清晰照出缺陷类型；

▷可进行明场检测，暗场检测及紫外检测；

▷支持深度学习对缺陷类别进行精准分类；

▷支持多通道、多空间光源；

▷支持用户定义或协商定制缺陷类别，但增加缺陷类别可能会影响产能。

▷报表可输出缺陷种类、缺陷Map、晶圆分级、输出等丰富报表功能；

▷报表内容包括良率数据、各种NG芯片数据等，具有良率监控功能，低于一定数值报警（不上抛），并生成良率报表；

▷支持检测数据按客户要求上抛到MES。

联系人

常先生 182 1881 3282

上一篇：没有了！

下一篇：没有了！