led/minled/micro COW AOI

发布日期：2025-04-14 10:03:03浏览次数：359

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功能概述

▷适用于GaN、lnP、GaAs衬底的芯片检缺陷检测、识别与分类

▷采用彩色图像检查，能清晰照出缺陷类型；

▷支持深度学习对缺陷类别进行精准分类；

▷支持多通道、多空间光源；

▷支持用户定义或协商定制缺陷类别，但增加缺陷类别可能会影响产能。

▷报表可输出缺陷种类、数目等参数；

▷报表内容包括良率数据、各种NG芯片数据等，具有良率监控功能，低于一定数值报警（不上抛），并生成良率报表；

▷支持检测数据按客户要求上抛到MES。

联系人

常先生 182 1881 3282

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